JFD-2000是一臺非接觸式膜厚檢測儀，采用光學干涉的原理檢測膜厚。可以測量同時可測干膜和濕膜。檢測范圍為0.5微米-100微米。

一、   儀器檢測原理外部光路結構：

光從光源發出，經過光纖導到反射探頭打出，聚焦在在樣品上。薄膜上下表面都會產生反射光，如下圖所示：

兩種反射光由反射探頭采集，并由另一根光纖導入到分光結構，進行光譜排列。測量出干涉條紋：測量譜圖：通過光譜軟件，將樣品放置于檢測位置，

可以得到反射率譜線，如下圖所示：

再經過軟件內部處理，得到干涉條紋的

極大值和極小值。

得到極值后再通過厚度公式，即可算出

膜層厚度。

二、    儀器適用范圍l  濕膜厚度檢測。l  干膜、硬涂層厚度檢測。l  玻璃、塑料、凝膠、光刻膠、電介質厚度檢測。l  汽車工業中薄膜、光油、底漆厚度檢測。l  醫療設備中藥囊、藥品覆膜、包裝薄膜厚度檢測。l  光伏產業中透明導電氧化膜、減反射膜厚度檢測。l  食品包裝中卷式薄膜、液體隔離膜厚度檢測。三、    樣品要求l  薄膜在200-1100nm內的某一波段可部分透光。l  薄膜厚度范圍：0.5um-100um（不同厚度范圍采用不同配置）。l  基底表面和薄膜表面平整光潔。四、    產品配置l  主控制箱內部包含光源、光譜儀、運動系統控制器。

通過USB線與電腦連接。

12V3A供電。

片狀支架通過光纖與控制箱連接。

五、   儀器主要參數

六、   重復性、重現性數據報告

重復性說明：

樣品不動，重復測量50次的厚度值。

重現性說明：

檢測樣品點不變，反復拿出樣品和放入樣品檢測50次的厚度值。 

七、   儀器操作

檢測操作，詳見操作說明書和軟件說明書。

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