JFD-2000是一臺(tái)非接觸式膜厚檢測儀，采用光學(xué)干涉的原理檢測膜厚。可以測量同時(shí)可測干膜和濕膜。檢測范圍為0.5微米-100微米。

一、   儀器檢測原理外部光路結(jié)構(gòu)：

光從光源發(fā)出，經(jīng)過光纖導(dǎo)到反射探頭打出，聚焦在在樣品上。薄膜上下表面都會(huì)產(chǎn)生反射光，如下圖所示：

兩種反射光由反射探頭采集，并由另一根光纖導(dǎo)入到分光結(jié)構(gòu)，進(jìn)行光譜排列。測量出干涉條紋：測量譜圖：通過光譜軟件，將樣品放置于檢測位置，

可以得到反射率譜線，如下圖所示：

再經(jīng)過軟件內(nèi)部處理，得到干涉條紋的

極大值和極小值。

得到極值后再通過厚度公式，即可算出

膜層厚度。

二、    儀器適用范圍l  濕膜厚度檢測。l  干膜、硬涂層厚度檢測。l  玻璃、塑料、凝膠、光刻膠、電介質(zhì)厚度檢測。l  汽車工業(yè)中薄膜、光油、底漆厚度檢測。l  醫(yī)療設(shè)備中藥囊、藥品覆膜、包裝薄膜厚度檢測。l  光伏產(chǎn)業(yè)中透明導(dǎo)電氧化膜、減反射膜厚度檢測。l  食品包裝中卷式薄膜、液體隔離膜厚度檢測。三、    樣品要求l  薄膜在200-1100nm內(nèi)的某一波段可部分透光。l  薄膜厚度范圍：0.5um-100um（不同厚度范圍采用不同配置）。l  基底表面和薄膜表面平整光潔。四、    產(chǎn)品配置l  主控制箱內(nèi)部包含光源、光譜儀、運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)控制器。

通過USB線與電腦連接。

12V3A供電。

片狀支架通過光纖與控制箱連接。

五、   儀器主要參數(shù)

六、   重復(fù)性、重現(xiàn)性數(shù)據(jù)報(bào)告

重復(fù)性說明：

樣品不動(dòng)，重復(fù)測量50次的厚度值。

重現(xiàn)性說明：

檢測樣品點(diǎn)不變，反復(fù)拿出樣品和放入樣品檢測50次的厚度值。 

七、   儀器操作

檢測操作，詳見操作說明書和軟件說明書。

東莞市嘉儀自動(dòng)化設(shè)備科技有限公司：http://www.canneedauto.com/
東莞市嘉儀自動(dòng)化設(shè)備科技有限公司：http://www.canneed-auto.com/
東莞市捷揚(yáng)光電科技有限公司：http://www.jieyanggd.com/