

JFD-2000是一臺(tái)非接觸式膜厚檢測儀,采用光學(xué)干涉的原理檢測膜厚。可以測量同時(shí)可測干膜和濕膜。檢測范圍為0.5微米-100微米。 
一、 儀器檢測原理外部光路結(jié)構(gòu):
	 
 
光從光源發(fā)出,經(jīng)過光纖導(dǎo)到反射探頭打出,聚焦在在樣品上。薄膜上下表面都會(huì)產(chǎn)生反射光,如下圖所示:
	
 
	
兩種反射光由反射探頭采集,并由另一根光纖導(dǎo)入到分光結(jié)構(gòu),進(jìn)行光譜排列。測量出干涉條紋:測量譜圖:通過光譜軟件,將樣品放置于檢測位置,
可以得到反射率譜線,如下圖所示:
	 
 
再經(jīng)過軟件內(nèi)部處理,得到干涉條紋的
極大值和極小值。
得到極值后再通過厚度公式,即可算出
膜層厚度。
二、 儀器適用范圍l 濕膜厚度檢測。l 干膜、硬涂層厚度檢測。l 玻璃、塑料、凝膠、光刻膠、電介質(zhì)厚度檢測。l 汽車工業(yè)中薄膜、光油、底漆厚度檢測。l 醫(yī)療設(shè)備中藥囊、藥品覆膜、包裝薄膜厚度檢測。l 光伏產(chǎn)業(yè)中透明導(dǎo)電氧化膜、減反射膜厚度檢測。l 食品包裝中卷式薄膜、液體隔離膜厚度檢測。三、 樣品要求l 薄膜在200-1100nm內(nèi)的某一波段可部分透光。l 薄膜厚度范圍:0.5um-100um(不同厚度范圍采用不同配置)。l 基底表面和薄膜表面平整光潔。四、 產(chǎn)品配置l 主控制箱內(nèi)部包含光源、光譜儀、運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)控制器。
通過USB線與電腦連接。
12V3A供電。
	 
 
片狀支架通過光纖與控制箱連接。
	 
 
五、 儀器主要參數(shù)
	
 
六、 重復(fù)性、重現(xiàn)性數(shù)據(jù)報(bào)告
重復(fù)性說明:
樣品不動(dòng),重復(fù)測量50次的厚度值。
重現(xiàn)性說明:
檢測樣品點(diǎn)不變,反復(fù)拿出樣品和放入樣品檢測50次的厚度值。
	 
 
七、 儀器操作
檢測操作,詳見操作說明書和軟件說明書。
	
 
	
 
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