點擊圖片查看大圖 RoHS/WEEE/ELV無損檢測
精準的Cr, Pb, Hg, Cd 定量分析
多鍍層，1～6層
測試精度：0.01 um
元素分析范圍從鈉(Al)到鈾(U)
測量時間：10-60秒
自動校準功能
5個準直器、濾光片自動切換
Si-PIN探測器，能量分辨率為149電子伏特
X射線管50KV/1mA，鎢靶，壽命大于3萬小時
高清CCD攝像頭，精確監控位置
高性能FP/MLSQ分析
樣品室尺寸 500x470x200 mm
移動距離 200(X)x200(Y)x150(Z) mm
儀器尺寸 550x700x570 mm
-方便的多層定義功能
-每層包含的定量元素確定
-方便的參數設置
鍍層厚度分析結果報告
打印檢測結果報告
-方便轉換成PDF, EXCEL, HTML
格式文檔
應用領域
* 應對非破壞檢測
* 汽車零件，電路板，電器 連接器，移動電話和IT產品
* 測量高價格的涂層
* 測量涂層中的貴重金屬
* 產品的研發，產品發展和定量控制
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